METTLERTOLEDO 瑞士梅特勒電子天平 XPR205/AC的特點(diǎn)

配有LabX

一次即準(zhǔn)的結(jié)果

集成的StatusLight?、LevelControl和GWP Approved協(xié)同作用，確保各項(xiàng)條件處于更佳狀態(tài)，獲得正確的稱量結(jié)果。

StaticDetect 靜電檢測(cè)

由于具備StaticDetect專業(yè)功能，XPR微量天平和分析天平可檢測(cè)樣品和容器的靜電荷。

始終可符合審計(jì)

將XPR分析天平連接至LabX軟件，為合規(guī)性和數(shù)據(jù)完整性提供全面支持。